TS EN IEC 61124

TS EN IEC 61124, sabit hata oranı veya sabit hata sıklığı varsayımı altında güvenilirlik uygunluk deneylerinin nasıl kurgulanacağını ele alan bir standarttır. Özellikle, gözlenen arıza davranışının belirli bir gereklilikle uyumlu olup olmadığını sınamak için kullanılan test planlarını ve bunların sınır çizgilerini tanımlar. Bu yaklaşım, ürünün veya sistemin zaman içindeki arıza oluşumunu istatistiksel olarak değerlendirmeye yöneliktir.

Uygunluk deneyi mantığı ve temel büyüklükler

Standart; arıza oranı, arıza sıklığı, ortalama çalışır durumda kalma süresi (MTTF) ve arızalar arasındaki ortalama çalışma süresi (MTBF) gibi göstergelerin verilen bir gerekliliği sağlayıp sağlamadığının test edilmesini amaçlar. Buradaki temel teknik fikir, test süresince arızaya kadar geçen sürelerin ya da arızalar arasındaki çalışma sürelerinin bağımsız ve özdeş üstel dağıldığı varsayımıdır; bu varsayım sabit arıza hızı veya sabit arıza yoğunluğu yorumunu destekler. Böylece test, tek bir ölçümden çok, belirli bir örneklem planı üzerinden karar vermeye dayanır.

Bu standardın tanımladığı test planları

• Sınırlandırılmış sıralı olasılık oranı testi (truncated SPRT)
• Sabit süre/arıza sonlandırmalı test (FTFT)
• Yerine koymasız sabit takvim süreli test
• Birleşik test yaklaşımı

Standart ayrıca test planı tasarlamak için elektronik tablo programlarında kullanılabilecek algoritmalar ve uygun planın seçimine yönelik rehberlik sağlar. Bununla birlikte, testin nasıl planlanacağı, yürütüleceği, analiz edileceği ve raporlanacağına ilişkin genel uygulama bilgileri bu dokümanın kapsamı dışında bırakılmıştır; bu konular IEC 60300-3-5’te ve test koşullarına ilişkin bilgiler ise IEC 60605-2 ile IEC 60300-3-5’te ele alınır. Genel teknik bağlamda bu tür planlar, güvenilirlik iddialarını deneysel veriye dayandırmak ve kabul/red kararını önceden tanımlanmış istatistiksel kurallarla vermek için kullanılır.