TS IEC 61163-2
Güvenilirlik gerilme elemesi - Bölüm 2: Elektronik bileşenler
Bu standard elektronik bileşenler için güvenilirlik gerilme elemesi tekniklerini ve prosedürlerini kapsar.
Available Formats:
- Availability: Immediate Download
- Language: English
- License Type: Single User
- Updates: Not Included
- Availability: Request Quote
- Language: English
- License Type: Enterprise / Multi User
- Updates: Included
About This Item
TS IEC 61163-2, elektronik bileşenlerde güvenilirlik gerilme elemesi için teknikleri ve prosedürleri tanımlayan bir standarttır. Bu konu, üretimden çıkan parçalar arasındaki erken dönem zayıflıkları ayıklamaya ve bileşenlerin güvenilirlik değerlendirmesinde daha tutarlı sonuçlar elde etmeye odaklanır. Belge, IEC 61163-2:1998 esas alınarak yayımlanmış olup elektronik bileşenlerin kalite ve güvenilirlik bağlamında ele alınmasına yöneliktir.
Güvenilirlik gerilme elemesinin teknik amacı
Güvenilirlik germe elemesi, bileşenleri normal kullanımın ötesinde kontrollü gerilim, sıcaklık veya benzeri zorlayıcı koşullara maruz bırakarak erken arızaya yatkın parçaları ortaya çıkarmayı amaçlayan bir yaklaşımdır. Genel teknik bağlamda bu tür eleme işlemleri, bir ürünün tasarım yeterliliğini kanıtlamaktan çok, üretim varyasyonlarını ve başlangıç kusurlarını azaltmaya hizmet eder. Elektronik bileşenlerde bu yaklaşım özellikle yarı iletkenler, pasif elemanlar ve diğer parça sınıflarında güvenilirlik hedeflerini desteklemek için kullanılır.
Bu bölümün kapsadığı içerik
- Elektronik bileşenler için güvenilirlik gerilme elemesi teknikleri
- Uygulamada kullanılan eleme prosedürleri
- Güvenilirlik değerlendirmesi ve üretim kalitesiyle ilişkili teknik çerçeve
Bu standardın değeri, germe elemesini rastgele bir test uygulaması olmaktan çıkarıp sistematik bir yöntem olarak ele almasıdır. Gerçek dünyada böyle bir standart, üretici ile kullanıcı arasında bileşenlerin nasıl taranacağına dair ortak bir teknik dil sağlar ve güvenilirlik yönetimi, kalite kontrolü ve kabul süreçlerinde tutarlılığı destekler. Ancak belgenin bu kaydı, elektronik bileşenlere yönelik eleme yöntemlerinin genel çerçevesini verir; belirli test koşulları veya sayısal sınırlar için belge metnine başvurmak gerekir.
- Publication Date: 8.02.2005
- Standard Status: H (İptal Edilmiş Standard/Withdrawn standard)
- Publisher: TSE
- Document Language: tr
- ICS Classification: 31.020 Elektronik Bileşenler (Genel) ; 03.120.01 Kalite (Genel)
- Pages: 30
- Source Standard: IEC 61163-2:1998
- International Equivalents: 61163-2-EQV
Need This Standard?
Request a personalized quote today to receive the latest edition in PDF or other available formats.
Need This Standard?
Request a personalized quote today to receive the latest edition in PDF or other available formats.
Summarize with AI
Get quick summaries using your favorite AI engine.
Online Standart Disclaimer
OnlineStandart.com is an authorized reseller of international standards, operating through partnerships with authorized distributors. We do not own the copyrights or trademarks of the standards we sell, including but not limited to those of API, ASHRAE, BSI, SAE, ASTM, IEEE, IEC, ASME, ISO, and others.
All product names, logos, and brands are the property of their respective owners and are used for identification purposes only; their use does not imply endorsement. OnlineStandart.com is not affiliated with or endorsed by any standards development organization unless explicitly stated. The content of this document is for informational purposes only and is intended to promote our licensed reselling services.
Online Standart does not host, distribute, or link to free, unlicensed, or uncertified copies of copyrighted standards. Every document we deliver is a licensed copy obtained through authorized channels and supplied with full licensing documentation. The “Free PDF Download” option on our product pages refers to this free informational document — never to a free copy of any standard.